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导通电阻试验装置
导通电阻试验装置RTm-30DC并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
型号: RTm-30DC
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 16:33:01
对比
低阻测试仪CAF试验绝缘阻力电阻试验绝缘劣化试验导通电阻测试
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J-RAS ECMr离子迁移试验装置
J-RAS ECMr离子迁移试验装置,在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。离子迁移实验装置 绝缘...
型号: ECMr-1000...
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 16:28:24
对比
离子迁移测试系统CAF测试高压绝缘测试仪可靠性测试大电压测试
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J-RAS离子迁移试验装置(CAF)
J-RAS离子迁移试验装置(CAF),在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
型号: HVUα-3000...
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 16:10:14
对比
离子迁移实验装置CAF试验绝缘阻力电阻试验绝缘劣化试验CAF测试装置
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离子迁移实验装置(CAF)
离子迁移实验装置(CAF) 原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试(1 ~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻...
型号: HVUα-2000...
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 16:08:09
对比
离子迁移实验装置CAF试验绝缘阻力电阻试验绝缘劣化试验CAF测试装置
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J-RAS离子迁移试验装置
J-RAS离子迁移试验装置 绝缘可靠性评估,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试(1 ~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生...
型号: HVUα-1000...
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 16:04:45
对比
离子迁移实验装置CAF试验绝缘阻力电阻试验绝缘劣化试验绝缘可靠性评估
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J-RAS离子迁移试验装置(CAF)
J-RAS离子迁移试验装置(CAF)绝缘电阻值测试,在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
型号: ECM-500
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 16:03:14
对比
离子迁移实验装置绝缘电阻值测试CAF测试信赖性测试失效分析
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J-RAS离子迁移试验装置(CAF)
J-RAS离子迁移试验装置(CAF)是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压, 经过长时间的测试(1 ~1000小时)并观察线路是否有瞬间短...
型号: ECM-100
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 16:00:54
对比
绝缘电阻值检测CAF测试方法CAF设备离子迁移测试离子迁移检测设备
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J-RAS离子迁移试验装置(CAF)
J-RAS代理离子迁移试验装置 CAF测试,J-RAS离子迁移试验装置(CAF)ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统,并且重要的试验数据被...
型号: ECM-100/1...
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 15:29:33
对比
迁移测试装置CAF试验电阻试验绝缘劣化试验J-RAS代理
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日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF)
日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF)是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~...
型号: ECM-100
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 15:19:40
对比
离子迁移测试装置日本J-RAS绝缘电阻值检测CAF测试方法日本J-RAS绝缘劣化试验
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导通电阻试验装置
导通电阻试验装置 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
型号: RTm-100
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 15:11:13
对比
离子迁移测试装置CAF试验绝缘阻力电阻试验绝缘劣化试验OPEN/SHORT 试验
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日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF)
日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF) CAF试验/CAF测试是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经...
型号: HVUα-1000...
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 15:05:16
对比
离子迁移实验装置CAF试验绝缘阻力电阻试验绝缘劣化试验CAF测试装置
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离子迁移测试装置(CAF)
ECM-100离子迁移测试装置(CAF)是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~...
型号: ECM-100
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 14:03:49
对比
离子迁移测试CAF测试测试装置什么是CAF信赖性测试
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3000V离子迁移试验装置
3000V离子迁移试验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000小时)并...
型号: HVUα_3000...
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 13:48:27
对比
离子迁移实验装置CAF 试验绝缘阻力电阻试验绝缘劣化试验CAF测试系统
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J-RAS离子迁移试验装置(CAF)
J-RAS离子迁移试验装置(CAF)是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~100...
型号: HVUα-2000
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 13:46:10
对比
离子迁移实验装置CAF 试验绝缘阻力电阻试验绝缘劣化试验绝缘可靠性评估
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日本J-RAS离子迁移试验装置CAF测试
日本J-RAS离子迁移试验装置CAF测试是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~...
型号: ECM-100
所在地:深圳市
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面议更新时间:2025/5/15 13:39:55
对比
离子迁移测试装置CAF试验绝缘阻力电阻试验绝缘劣化试验OPEN/SHORT 试验